「如果現在只談傳統的IC檢測，我覺得有點平。」半導體檢測大廠汎銓董事長柳紀綸表示，傳統IC檢測市場已趨於平緩，他觀察，目前若沒有沾上AI題材的傳統IC設計公司，其開出的新案數量正在減少，將連帶導致一般傳統IC檢測領域的發展，「以前那些做消費電子的成長全都放緩了」。
即使是汎銓過去主力投入的先進製程材料分析（MA）業務，柳紀綸也認為這跟矽光子比是階段性商機，「對於台積電等先進製程而言，當2奈米製程研發成功後，檢測需求就會直接推進到下一代」，這時他話鋒一轉：「但矽光子商機無窮無盡，從前期研發到量產，最後到良率確認，都需要檢測。」
柳紀綸解釋，矽光子檢測將帶來「從研發到量產」的長尾商機與傳統IC檢測不同，矽光子檢測的商機是持續性的，「未來的CPO封裝會越來越龐大且複雜，內部將充滿無數次光轉電、電轉光的迴路。」當整塊晶片發生良率問題時，客戶無法單憑傳統的電性測試找出問題，必須仰賴能精準抓取漏光波段，不管是前期的研發端、還是未來的量產與良率確認端，都將高度依賴其專利技術與檢測設備。
他也透露汎銓在矽光子領域的佈局思維，首先是鎖定最核心的光子積體電路（PIC）晶片檢測，他認為比起光纖等周邊技術，PIC才會是矽光子中商機最大的一環。
再者，汎銓要透過專利卡位作為護城河，將 「IR OM（紅外線光學顯微鏡）」與「IR 影像感測器」結合，涵蓋範圍廣達100奈米到6000奈米波段，柳紀綸指出，如果要做光損偵測，繞不過專利涵蓋的1310奈米與1550奈米這兩個關鍵波段。
面對《鏡報》提問關於對光焱科技（7728）發起的專利侵權訴訟，柳紀綸回應：「已經進行長達一年的蒐證，並將對方在技術研討會或法說會上親口承認設備能做到特定波段漏光檢測的言論，全部錄影存證並交到法官手上，交由法院裁定。」對此，光焱科技重申，公司所有核心產品均是在完全尊重智慧財產權的前提下，來自於團隊長期耕耘光學與光電子量測技術之自主研發成果。對於相關法律程序，公司已主動委由專業法律團隊積極應對，並有信心透過完整的技術事實與制度機制，清楚釐清相關爭點。
至於目前訴訟進度，柳紀綸從容地強調：「何時開庭一點也不重要。」因為汎銓手握專利、技術、客戶三大優勢，「如果今天汎銓空有專利而沒賺到錢，確實會急著透過法庭把客戶搶回來」，但柳紀綸直言：「專利在我手上，技術在我手上，客戶在我手上啊，我為什麼要急呢？」僅是透過法律手段切斷競爭對手接觸客戶的機會。
