半導體檢測分析大廠汎銓科技（6830）今年3月指出，發現光焱科技（7728）涉及侵犯汎銓公司「光損偵測裝置」專利相關之設備及技術方案，向智慧財產及商業法院提起訴訟，主張光焱侵害汎銓所擁有之中華民國第 I870008B號「光損偵測裝置」發明專利，該專利也陸續取得台灣、日本、美國、歐洲專利。
光焱科技委任之巨群法律專利事務所主持律師賴安國受訪時表示，專利訴訟的核心爭點主要在於「專利有效性」以及「被控產品是否落入專利權利保護範圍」。汎銓在此案中主張受侵害的專利為第I870008B號「光損偵測裝置」發明專利，並以FormFactor的CM300xi-SiPh機台搭配光焱NightJar所構成的整套設備作為侵權指控對象。
然而，回溯該專利的申請歷史檔案，智慧財產局在初審時曾以前案核駁其不具進步性，汎銓為順利取得專利，主動限縮請求項特徵，明確要求第一發射顯微鏡必須包含影像感測器及「其連接之金相顯微鏡」，而光焱的NightJar設備內部根本未具備金相顯微鏡，從技術要件來看已不符全要件原則。
更為關鍵的是，在於汎銓在過去舉發程序中的答辯論述反成自身的法律枷鎖。賴安國表示，在其他第三方挑戰該專利效力的舉發案中，舉發人曾引用CM300xi-SiPh機台作為前案證據試圖撤銷專利，但當時汎銓為了守護專利有效性，白紙黑字向智財局陳述CM300所配備的eVue顯微鏡量測波長屬於可見光，與其專利量測紅外光的技術不同，極力主張「CM300與系爭專利技術不同」以成功守住專利。
依據智慧局頒布之專利侵權判斷要點，專利權人為克服舉發所做的限縮性解釋，將直接成為法院界定專利保護範圍的依據，賴安國認為，汎銓既然已在官方答辯中將CM300排除在外，如今自不能反悔回頭主張CM300搭配NightJar構成侵權。
此外，外界關注FormFactor的CM300機台與光焱NightJar的組合是否能間接證明不侵權，賴安國進一步澄清，判斷專利侵權絕非單純檢視規格書表面文字的比對，必須全盤檢視申請歷史檔案與舉發論述全貌。
由於汎銓在舉發案中已認定CM300上的顯微鏡並非專利所指的金相顯微鏡，因此即便整合了NightJar的感測模組，整體組合依然欠缺了「金相顯微鏡」這項關鍵要件，且智財局初期的審定意見亦同樣認定兩者鏡頭體系不同。賴安國強調，本案除將持續進行專利無效攻防外，在產品比對與專利權利範圍的界定上已握有充分論據，對後續審理結果抱持高度信心。
