財經理財

2026/03/27 14:06:00

矽光子檢測市場近期爆發專利之爭，汎銓向光焱提告侵害專利，汎銓柳紀綸董事長表示，矽光子漏光偵測所用的波段偵測器，就是汎銓專利範圍，光焱則表示，汎銓所宣稱之專利，係採用傳統「金相顯微鏡」組成之方案進行光損量測，而光焱科技則是基於次世代、更先進的「高光譜成像技術感測模組」為核心技術。